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變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理
變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路被測(cè)回路,如圖3所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度的標(biāo)準(zhǔn)電容器與采樣電路組成,被試回路由被試品和采樣電路組成。由單片機(jī)運(yùn)用計(jì)算機(jī)數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,對(duì)數(shù)以萬(wàn)計(jì)的采樣數(shù)據(jù)處理后進(jìn)行矢量運(yùn)算,分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系,并由之算出試品的電容值(Cx)和介質(zhì)損耗角正切(tgδ),測(cè)量結(jié)果可靠?,F(xiàn)場(chǎng)有干擾時(shí),先利用移相、倒相法減小干擾的影響,再將被試回路測(cè)得的電流Ix’與單獨(dú)測(cè)得的干擾電流Id矢量相加,得到真正的測(cè)量電流Ix,進(jìn)而得出正確的測(cè)量結(jié)果??筛鶕?jù)不同的測(cè)量對(duì)象和測(cè)量需要,靈活地采用多種接線方式。如測(cè)量非接地試品(正接法)時(shí),“Lv”(E)點(diǎn)接地;而測(cè)量接地試品(反接法)時(shí),則“Hv”點(diǎn)接地。