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HTZK-V 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀定量測(cè)量、適用于真空開(kāi)關(guān)真空度的測(cè)量、真空開(kāi)關(guān)預(yù)防檢測(cè)儀器參考標(biāo)準(zhǔn):DL/T846.9-2004定量測(cè)量各種型號(hào)真空開(kāi)關(guān)滅弧室內(nèi)的真空度不需拆卸真空開(kāi)關(guān)即可測(cè)量RS232通訊接口、實(shí)現(xiàn)真空度-離子電流曲線下載
更新時(shí)間:2024-09-08
產(chǎn)品型號(hào):HTZK-V
訪問(wèn)次數(shù):952
在線留言品牌 | 華圖高電 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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HTZK-V 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介
隨著中壓開(kāi)關(guān)無(wú)油化浪潮的興起,真空開(kāi)關(guān)以其*的優(yōu)點(diǎn)得到了廣泛的推廣和應(yīng)用。由于生產(chǎn)工藝和現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境方面的原因,有些真空開(kāi)關(guān)在運(yùn)行過(guò)程中其真空滅弧室會(huì)有不同程度的泄漏,有的在正常壽命范圍內(nèi)就可能泄漏到無(wú)法正常開(kāi)斷的地步。在這種情況下進(jìn)行開(kāi)斷就會(huì)出現(xiàn)不能正常開(kāi)斷的現(xiàn)象而造成嚴(yán)重的后果。國(guó)內(nèi)真空開(kāi)關(guān)事故大多是由此原因引起。所以加強(qiáng)定期或不定期檢測(cè)真空開(kāi)關(guān)真空度成了十分重要的環(huán)節(jié)。
傳統(tǒng)的檢測(cè)方法是"耐壓法",即真空開(kāi)關(guān)處于開(kāi)斷狀態(tài)下,在動(dòng)靜觸頭之間施加一定的電壓,檢測(cè)其泄漏電流的大小,由此推斷真空管的好壞。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是:操作簡(jiǎn)單;缺點(diǎn)是:只能定性地檢測(cè)真空管的好壞;而且真空度在10-4~10-1Pa之間無(wú)法準(zhǔn)確分辨,所以無(wú)法判斷泄漏的發(fā)展趨勢(shì)(即同一個(gè)真空開(kāi)關(guān)和上次相比有多大程度的泄漏)。
華中科技大學(xué)從九十年代初開(kāi)始研究真空開(kāi)關(guān)滅弧室真空度現(xiàn)場(chǎng)的定量檢測(cè),經(jīng)過(guò)近十年的努力,于一九九九年獲得,并實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場(chǎng)不拆卸定量測(cè)量。有了定量測(cè)量的手段,不僅可以測(cè)量真空開(kāi)關(guān)真空度是否在正常范圍內(nèi),同時(shí)更重要的是,對(duì)某些泄漏速度較快的真空開(kāi)關(guān),通過(guò)歷年測(cè)量結(jié)果相比較,可以大致推斷它的壽命,真正起到預(yù)防意外事故發(fā)生的目的。
今年來(lái),本公司與華中科技大學(xué)合作,共同推出新型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀,是上一代產(chǎn)品的基礎(chǔ)上升級(jí)換代的產(chǎn)品。該結(jié)構(gòu)緊湊,機(jī)型輕便小巧,測(cè)試時(shí)間更短,測(cè)量可靠性、穩(wěn)定性、精度更高,功能更加完善。
HTZK-V 產(chǎn)品特征
1、可定量測(cè)量各種型號(hào)真空開(kāi)關(guān)滅弧室內(nèi)的真空度;
2、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)不需拆卸真空開(kāi)關(guān);
3、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠;
4、液晶漢字顯示,操作更加簡(jiǎn)單方便;
5、可保存、打印、查看測(cè)試的試驗(yàn)數(shù)據(jù);
6、帶有RS232通訊接口,可以連接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)真空度-離子電流曲線下載、壽命估計(jì)等多種功能;
7、儀器重量輕,攜帶方便。